合金分析儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成由于它具有便攜、、準確等優(yōu)點使其在質量控制、材料分類、合金鑒別、事故調查等現(xiàn)場有著廣泛的應用。 合金分析儀主要源于光譜的發(fā)明。1704年牛頓首先發(fā)現(xiàn)光可以分解成為光譜。他發(fā)現(xiàn)太陽光束通過暗房鎧窗上的圓孔，入射到玻璃棱鏡后，會在墻壁上產生彩虹圖形。于是，牛頓根據他創(chuàng)造的光的微粒說理論解釋了這種現(xiàn)象，但是他沒有詳細地研究太陽光譜。直到后來夫瑯禾費給每個光譜都做上記號，光譜理論才算真正成立。光譜的成立，促使很多研究者來研究這項新的發(fā)現(xiàn)，于是光譜分析儀也相應產生了，起初的光譜分析儀主要用于對光譜的分析定性和實驗室研究。隨著光譜理論的不斷完善和運用的廣泛，普通的分析儀已經無法滿足人們的要求，于是合金分析儀誕生了，讓人們更加方便的研究物質光線。
現(xiàn)在 合金分析儀已經成為當下的分析儀器，它匯合了光譜儀器的優(yōu)點，同時又具有便于攜帶等新的特點，所以成為主流儀器
合金分析儀 是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據X射線的發(fā)射波長（λ）能量（E）確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。XRF度普術就能測定物質的元素構成。
每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)可以得知質子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應固定的元素名稱。能量色散X螢光與波長色散X螢光光譜分析技術特別研究與應用了zui里層三個電子軌道即K，L，M上的活動情況，其中K軌道zui為接近核子，每個電子軌道則對應某元素一個個特定的能量層。
在XRF分析法中，從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將zui里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內層的空間。在這些電子從外層進入內層的過程中，它們會釋放出能量，稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內層和外層之間的能量差決定的。特定元素在一定時間內所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。
